1. An essential guide to electronic material surfaces and interfaces /
پدیدآورنده : by Leonard J. Brillson, Ohio State University
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Electronics-- Materials.,Semiconductors-- Materials.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology)-- Analysis.
رده :
TK7871
2. Kelvin probe force microscopy :
پدیدآورنده : Sascha Sadewasser, Thilo Glatzel, editors.
کتابخانه: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع : Atomic force microscopy.,Electrostatics-- Measurement.,Scanning probe microscopy.,Materials science.,Materials science.,Measurement.,Mensuration & systems of measurement.,Microscopy.,Nanotechnology.,Physical measurements.,Physics.,Precision instruments manufacture.,SCIENCE-- General.,Spectrum analysis, spectrochemistry, mass spectrometry.,Spectrum analysis.,Surfaces (Technology),Testing of materials.,Thin films.
رده :
QH212
.
A78
K45
2018
3. Surface science techniques
پدیدآورنده : edited by J.M. Walls and R. Smith
کتابخانه: (طهران)
موضوع : Surfaces )Physics( - Technique , Surface chemistry - Technique , Spectrum analysis , Surfaces )Technology(
رده :
QC
173
.
4
.
S94
S9646
1994
